分光干涉式激光位移计

产品阵容

SI-T 系列 - 分光干涉位移型多层膜厚测量仪

保证多层电路板膜厚, 主要包括近红外光・也没有伤害, 进行网上精确测量,五秒1000次的采集频繁 ,为之前膜厚精确测量器的带来了新的将会性。

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SI-F 系列 - 微型传感头型分光干涉式 激光位移计

装修界超微细型感应器器头,混凝土泵送精准度,很好解决了内部设置有电子器件零件及运转情况感应器次的发高烧方面,并不受电滋躁声导致。

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SI-F80R 系列 - 分光干涉式晶片厚度计

选取近红外 SLD,也许已贴附 BG 带也可精确在线测量晶片本质的板厚为。也许晶片外表的存在因简单图案而带来的明显异同,也可实现目标最准的产出网上营销精确在线测量。

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