分光干预位移型双层以上膜厚在线测定仪
SI-T 全系列
分光打搅位移型小高层膜厚測量仪 SI-T 类别
从单层到多层，可以实现在线稳定测量
追“易用性”，使把手机通讯录开始愈发简单易行。融成 KEYENCE 的激光行业位移计和分光打搅计，转变了当下膜厚測量仪的传统的市场概念。
产品特性
粘附层也可以稳定测量
借助 KEYENCE配备的光量累计功能，
类似粘附层等粗糙的表面，也可以实现稳定测量。
实现广范围测量
在弯曲生产工艺等工作中，可能应该用于上中在下游至在下游的多种活动场地。
针对测量场景量身定制的阵容
多层位移测量型 SI-T10
长距离厚度测量型 SI-T80
应用
在制程内测量基材厚
涂布后的湿膜厚度测量
