形状图片大全检测激光行业显微系统的
VK-X 系例
最新推荐带替设备: 测量头 - VK-X3100
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检测的头 (蓝色半导体器件缴光) VK-X1100
规格
参数 | VK-X1100 | |||
类型的 | 在线测量头 | |||
综上倍数 | 28,800 倍以下*1 | |||
视线中 (世界上最大视线中标准) | 11 µm 至 7,398 µm | |||
帧率 (智能机械衡量车速) | 4 至 125 Hz、7,900 Hz*2 | |||
量测设计原理 | 光纤激光切割机的软件 | 针孔共集聚磁学装置、光学变焦 | ||
光考虑部件 | 16 bit 感觉光電飙升器、高精巧五颜六色CMOS | |||
扫描方式 | 系统自动前后左右限设置好职能、高速路光量最好的化职能 (AAGII)、条件折射光量过高添加职能 (双测试) | |||
极度检测的 | 提示 区分率 | 0.5 nm | ||
线性网络表尺 | ||||
动态量程 | 16 bit | |||
抄袭的精密度σ | 激光机器共焦聚 | 20 倍 : 40 nm、50 倍 : 12 nm | ||
调焦 | 5 倍 : 500 nm、10 倍 : 100 nm、20 倍 : 50 nm、50 倍 : 20 nm | |||
间距的数据提取比率 | 70 万工作步骤 | |||
准确的性 | 0.2 + L/100 µm 或更小 (L = 测量长度 µm)*3 | |||
横向衡量 | 出现鉴别率 | 1 nm | ||
抄袭精确度 3σ | 脉冲激光共聚交 | 20 倍 : 100 nm、50 倍 : 40 nm | ||
调焦 | 5 倍 : 400 nm、10 倍 : 400 nm、20 倍 : 120 nm、50 倍 : 50 nm | |||
完整性性 | 测量值±2 % 以内*3 | |||
XY 载物台的结构 | 手动式 使用面积 | 70 mm x 70 mm | ||
直流电动 启动範圍 | 100 mm x 100 mm | |||
观查 | 检查图象 | 非常高专注颜色CMOS 影像、16 bit 机光颜色共话题影像、共话题 + ND 滤波器光学元件软件系统、C - 机光微分干预影像 | ||
照射 | 环状采光、同轴落射采光 | |||
测定用激光机器照明 | 光波长 | 黑色半导体芯片机光 404 nm | ||
比较大输入输出 | 1 mW | |||
机光产品设备 | 2 类激光束成品 (GB7247.1) | |||
交流电源 | 电源适配器电阻 | 100 至 240 VAC、50/60 Hz | ||
需求量感应电流 | 150 VA | |||
质量 | 约 13.0 kg | |||
*1 23 寸显示器画面上的倍率 (全屏显示器时)。 |