款式在测量皮秒激光显微程序 VK-X 系列表

造型自动测量机光显微系統 VK-X 系例

VK-X 系列 - 形状测量激光显微系统

微小面样式相互影响平均值化的非接受式有粗糙度仪已至佳境。

产品特性

  • 从50 mm 到1 nm 的高精度测量
  • 测量区域 传统产品的16 倍* *与VK-X250的较好
  • 测量时间 最快5 秒

推荐

坐版物品 研制成功亮光干涉现象仪，可对于从纳米技术到厘米层次的在线测量

VK-X3000 系列 - 形状测量激光显微系统

  • 纳米/微米/毫米一台即可完成测量
  • 通过三重扫描方式发挥更强大的测量能力
  • 实现目标样品的台阶高度、平整度、粗糙度、膜厚等测量

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