的形状自动测量激光机器显微机系统 VK-X 类别

本产品已停产。

图型侧量二氧化碳激光显微程序 VK-X 题材

VK-X 系列 - 形状测量激光显微系统

细节表明模样差异性均值化的非触碰式光滑度仪已至佳境。

产品特性

  • 从50 mm 到1 nm 的高精度测量
  • 测量区域 传统产品的16 倍* *与VK-X250的比效
  • 测量时间 最快5 秒

推荐

新一代 设备 在用白炽涉及仪，可需要对从纳米级到公分水平的校正

VK-X3000 系列 - 形状测量激光显微系统

  • 纳米/微米/毫米一台即可完成测量
  • 通过三重扫描方式发挥更强大的测量能力
  • 实现目标样品的台阶高度、平整度、粗糙度、膜厚等测量

下载目录 VK-X3000 系列 形状测量激光显微系统 产品目录

* 详情请点击至商品详情页确认