分光干涉现象位移型双层以上膜厚检测的仪 SI-T 系列产品

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分光单园 SI-T10U

SI-T10U - 分光单元

*请考虑,图片集中的配件价格也许 不具有在服务中。

软件

  • CE 标志概述

规格

款式

SI-T10U*1

多种类型双层以上位移测定型 分光摸块
测试位置 (反射率n=1)0.01 到1.0 mm
参看时间

9 mm*2

估测用照明红外SLD , 输入输出1 mW , 1 类脉冲光好产品(IEC60825-1)
点光外径

ø30 µm*3

直线度

±0.3 µm*4

辩认率

0.01 µm (0.25 µm)*5*6

抽样过渡期1 ms
扫描机比率
扫描软件频次
LED表明梦想贴近測量主:绿光。梦想在測量规模内:橙光。梦想在測量规模外:橙光一闪一闪。
条件抗忍耐性金属外壳护甲级
坏境光线日光灯、荧光灯:10000 lux 有以下
学习环境高温0 到+35°C
相比较环境湿度35 到80%RH(无气液分离器)
房屋抗震性10 到55Hz,XYZ 路径上0.5 mm 二倍波幅,各2 小的时候
文件聚氨酯
总重量约1.3kg

*1 传感头和分光单元已经配套调整完毕。无兼容性。
*2 表示与传感头正面的距离。会出现最大 ±0.2 mm 的个别差异。
*3 表示测量范围内的最小光束直径。
*4 当测量对象是玻璃板表面并将平均测量次数设定为 64 次时获得的值
*5 不使用峰值间计算时为 0.25 μm。
*6 当测量对象是位于测量🌞中心厚度为 t=0.1 mm 🐬的玻璃,并将平均测量次数设定为 4096 次时获得的值

的技术标准(PDF) 任何规格