倒入应用案例 客服之声 ＜机的薄厚篇＞
案例 1: 玻璃的厚度测量
| 行业种类 | 半导体和液晶行业 |
|---|---|
| 用途名称 | 玻璃的厚度测量 |
| 采用机型 | LK-G5000系列 |
使用A公司的激光移位计测量了玻璃的厚度。有时图案面会产生追踪误差，难以改善检查效率。
通过采用基恩士的激光移位计LK系列，可消除图案面的追踪误差，并改善检查效率。
企业之声
欢迎采用本设备。
因ꦑ玻璃面与图案面的反射率之差导致图案面的追踪误差。为了在各个面上呈现理想的反射光量，可通过激光移位计LK系列高速控制发射时间和发射功率，无限降低追踪误差的影响。
基恩士
案例 2: 多层薄膜的膜厚测量
| 行业种类 | 电子和电机行业 |
|---|---|
| 用途名称 | 多层薄膜的膜厚测量 |
| 采用机型 | SI-T系列 |
通过X线式的膜厚计测量了透明多层薄膜的膜厚。测量点较大，无法管理细微厚度的偏差。
通过采用基恩士的𒁃分光干涉式激光位移计，ꦑ可测量细微的薄膜厚度，并活用于吐出流量、压力及传输速度的理想控制。
顾客之声
欢迎采用本设备
分光干涉式激光位移计SI系列可通过30 μm的小光点来测量厚度，因此能准确测量至边缘部。可用于检测缠🐓绕不良和预防扎带现象。
基恩士
案例 3: 晶圆的厚度测量
| 行业种类 | 半导体和液晶行业 |
|---|---|
| 用途名称 | 晶圆的厚度测量 |
| 采用机型 | SI-R系列 |
通过接触式测量仪管理了晶圆的厚度。存在测量时切开晶圆导致划伤的课题，因此研究使用非接触测量仪。
通过采用基恩士的分光干涉式激光位移计SI-R系列，💝无需担心划伤晶圆。头部较小，可安装于装置内，从而能﷽始终监视晶圆的厚度。
投资者之声
欢迎采用本设备。
分光干涉式激光位移计SI-R系列采用了可透过Si及GaAs、SiC、InP、a-Si等半导体的近红外SLD。因此，即使贴有BG胶𒀰带，仍可准确测量晶圆的厚度。
基恩士
案例 4: 面条的厚度测量
| 行业种类 | 食品行业 |
|---|---|
| 用途名称 | 面条的厚度测量 |
| 采用机型 | LK-G5000系列 |
使用千分尺抽检了面条的厚度。由于面条柔软，受到接触压力的影响，会存在因人而异的测量结果偏差。
通过采用基恩士的激光移位计LK系列，实现了在线管理厚度。当然，由于为非接触式ꦑ测量，也可解决因人而异🦂的偏差问题。
雇主之声
欢迎采用本设备。
面条的厚度测量是采用实绩较多的一种用途。由于面条的制造工序处于面粉弥漫的环境，因此稳定测量值非常重要。
激光移位计LK系列配备了能消除突发性值的中值滤波器，可不受面粉的影响进行稳定测量。
基恩士
案例 5: 橡胶薄板的厚度测量
| 行业种类 | 树脂和橡胶行业 |
|---|---|
| 用途名称 | 橡胶薄板的厚度测量 |
| 采用机型 | LK-G5000系列 |
使用A公司的激光移位计在线测量了橡胶薄板的厚度。
由于不支持产品公差的严格要求，ꦫ因此尝试了基恩士的激光移位计LK系列。也可通过LK系列解决因表面粗糙度影响所产生的测量值偏差。由于测试结果良好，因此决定购买。
大家之声
欢迎采用本设备。
激光移位计LK系列拥有392 kHz超快采样速度的特点。通过平均🎶处理高速采样所获得的大量数据，即使在线测量仍可稳定测量厚度。
基恩士
案例 6: 马达机芯的迭片厚度测量
| 行业种类 | 运输和金属行业 |
|---|---|
| 用途名称 | 马达机芯的迭片厚度测量 |
| 采用机型 | LK-G5000系列 |
马达机芯迭片的性能随迭片数量而异，因此要目视检查安装的迭片是否为规定数量。
使用基恩士的激光移位计LK系列能在线测量厚度，可自动进行抽检。
客之声
欢迎采用本设备。
若要通过厚度﷽测量判断迭片数量是否在规定范围内，则要求精确到微米级的测量精度。激光移位计LK系列采用了能大幅控制表面粗糙度影响的光学设计，并配备了专用部件，可在线高精度测量各种目标物。
基恩士
案例 7: 玻璃面板的密封材料厚度测量
| 行业种类 | 运输和金属行业 |
|---|---|
| 用途名称 | 玻璃面板的密封材料厚度测量 |
| 采用机型 | LJ-V系列 |
合作方之声
欢迎采用本设备。
2D激光移位计LK系列的特点是具备超快的采样速度。即使在高速控制胶枪💦的情况下，仍可进行ꦇ窄小间距的测量，因此能防止密封不良。
基恩士
