样式形态精确测量激光行业显微操作系统
VK-X3000 品类
外观測量缴光显微体统 VK-X3000 款型
搭载白光干涉功能
纳米/微米/毫米一台即可完成测量
凌驾机光电子显微镜的限定，以三大扫苗习惯对待
- 一台即可测量纳米/ 微米/ 毫米
- 一台即可了解希望获取的信息
- 最高分辨率0.01 nm
进行了三大阅读器具体方法，借助离子束共集中、白灯干涉仪、集中波动等这几种差异的阅读器的工作原理，高功率和低功率，剖面、凹陷外面的小小滑度，已经磨砂体，透明化体等。VK持有对待多种不同供试品的測量工作能力（从 1 nm 到 50 mm），纳米级/毫米左右/毫米左右一套已完成測量。
产品特性
Basic Characteristics
观察
- 42 至 28800 倍
- 无需对焦
- 适用于多种样品
测量
- 不会损伤目标物
- 纳米级别也可准确测量
- 透明体和坡度大的目标物也可测量
分析
- 定量化微小形状
- 轻松比较多个样品
- 粗糙度分析
三重扫描方式
解决“难以测量”的难题
可不同的仿品产品的原料、图型和估测范围内，取舍脉冲光共把握、白炽抵触、把握转变 等六种不同的的检测工作原理，实现高表面粗糙度估测。
最高分辨率0.01 nm
即使是纳米级的微小形状变化也能准确测量。
此外，如镜面体、透明体等测量难度高的材料也能实现高速、高精度、大范围的测量。
连高度差较大的凹凸处
和大范围区域也能测量
最大扫描区域50 mm见方。
凹凸不平或手掌大小的物体也能整体扫描。
只需一台设备，即可同时掌握整体形状和局部形状。
精确测量高倍率和低倍率。平面和凹凸面。
适用人群于各项的目标物的测定力
