涉及式同轴 3D 位移侧量仪 WI-5000 全系列

仅需短短0.13秒即可 高精度测量8万点的高度

WI-5000 系列 - 干涉式同轴 3D 位移测量仪

主要包括亮光干涉现象机制，可实行高速度、高精准度的3D测试方法方法。使用从相对高度差/大小测试方法方法等的测试方法方法到总宽/绿地面积等各种各样的测试方法方法。

产品特性

并非以点线测量，而是以“面”进行测量

重要性主要 10 × 10 mm 的測量位置，可那一瞬间获利 8 万个点的层面。 主要是因为利用白灯约束关键技术，受到所选材质/外表颜色、盲区的导致，变现了μm级的高精确測量。

在线实现高速全数检测

衡量多方向时，所需高内外且高速公路扫面对方物。 所以，会将期限节约在转动载物台子上，不适合使用全数查测。 是由于 WI-5000 类别是以面使用直接衡量，所以可幅度延长衡量期限，改变全数查测。

大幅削减离线检测工时

只为用来连接超时加测，搭载可固定住感知器头的专门的座子。 搭载可减少加测工时的各式好用功能性。 促进从简洁测量方法到导出数据信息等各式现状的可基本操作性。