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随着第五代移动通信系统(5G)的普及,半导体工件的精细化、高度集成化不断发展,对产品的检测分析需求也越来越高。
下面我们将为您介绍较多使用数码显微系统进行观察的BGA(焊点)的观察、测量案例。

BGA(焊点)的数码显微系统下的观察、测量

IC封装的代表性种类

随着IC的集成度的增加,表面贴装型逐渐成为主流。另外,在集成度高的IC中,使用了矩阵型(BGA型)的封装。
下述为IC封装的代表性种类。

表面贴装型:无引线型封装

SON(Small Outline Non-leaded package)
算是外面贴装二极管装封,不会引线,所代替引线,为无线连接用接线端子排而配备电级衬垫。SON是2方面分类,算是低销数用的二极管装封。
QFN(Quad Flat Non-leaded package)
应属从表面贴装打包打包封装,不能引线,被淘汰引线,作衔接用接线鼻子而常备电级衬垫。QFN是4目标方向类行的打包打包封装。

表面贴装型:矩阵型封装

BGA(Ball Grid Array)
在封装形式基材遵循阵列状排序的球体焊锡球,依据这个最为接插件而动用。
PGA(Pin Grid Array)
在打包封装底边,并按照阵列状排列成的销,这样来为接线端子排而用。
LGA(Land Grid Array)
在装封底边如果根据阵列状排列成了铜等的参比电极衬垫,仅以身为绝缘端子而使用的。

贴装IC芯片的代表性接合方法

引线接合
利于金、铝、铜等细线接入半导体技术IC芯片的探针部与引线框或彩色印刷电路设计板上导体之前的办法。
倒装芯片接合
直接性将IC处理电源芯片相邻接到印上用电线路板上的办法,被称之为FC-BGA(Flip Chip-BGA)。在IC处理电源芯片的工业大部分养成焊点后,与印上用电线路板侧的工业相相邻接。与引线黏结相比较,都可以作到省环境空间。
  • 左:IC芯片
  • 右:倒装(正面朝下)

倒装芯片接合的焊点形成方法的种类

焊球搭配法
将事先成型的球状焊球配置到电极上,通过回流焊形成焊点。与锡膏印刷法相比可提升焊点,对焊球的尺寸进行一定管理,能够抑制焊点高度的不均。
锡膏印刷法
将焊膏印刷到电极上,通过回流焊形成焊点。生产能力高,但是难以抑制高度的不均。
镀层法
通过电解镀层形成焊点。能够形成细微的焊点,但是生产能力低。

使用数码显微系统进行BGA(焊点)的观察、测量案例

将为您解释选择基恩士的4K数码图文显微软件“VHX国产”,对BGA(焊点)来进行图文探究、测量方法的新案列。
BGA焊点的倾斜观察
100× 环状灯光 能倾角检查,就能够从印刷制版厂家板的细缝检查BGA焊球。
BGA焊点的3D测量
300× 混杂照明明(消减光束画面)

利用混合照明与消除光晕功能,
可以无光晕观察。

BGA焊点的截面观察
300× 同轴落射照明
焊点的3D观察
2000× 同轴落射照明
焊点的3D测量
300× 同轴落射照明
tcm:115-2029723-64